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文章詳情
中國(guó)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)列表
日期：2025-12-15 10:29
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摘要：
標(biāo) 準(zhǔn) 編 號(hào) | 標(biāo) 準(zhǔn) 名 稱 |
GB10586-89 | 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10587-89 | 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10588-89 | 長(zhǎng)黴試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10589-89 | 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10590-89 | 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10591-89 | 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB10592-89 | 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB11158-89 | 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB11159-89 | 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
GB/T5170.1-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則 |
GB/T5170.2-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
GB/T5170.5-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 |
GB/T5170.8-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 |
GB/T5170.9-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備 |
GB/T5170.10-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 |
GB/T5170.11-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 |
GB5170.13-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) |
GB5170.14-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) |
GB5170.15-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振 動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) |
GB5170.16-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī) |
GB5170.17-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 |
GB5170.18-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 |
GB5170.19-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備 |
GB5170.20-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備 |
GB2421-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則 |
GB/T2422-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ) |
GB2423.1-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 |
GB2423.2-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.3-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.4-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.5-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：衝擊 |
GB/T2423.6-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞 |
GB/T2423.7-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第4部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒 |
（主要用於設(shè)備樣品） | |
GB/T2423.8-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第5部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落 |
GB2423.9-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.10-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦） |
GB/T2423.11-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法以 試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求 |
GB/T2423.12-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性 |
GB/T2423.13-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性 |
GB/T2423.14-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性 |
GB/T2423.15-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 |
GB/T2423.16-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)黴 |
GB/T2423.17-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法 |
GB2423.18-2000 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb：交變鹽霧試驗(yàn)方法（氯化鈉溶液） |
GB2423.19-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 |
GB2423.20-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法 |
GB2423.21-91 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法 |
GB2423.22-87 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.23-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封 |
GB/T2423.24-1995 | 電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模似地麵上的太陽(yáng)輻射 |
GB/T2423.25-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn) |
GB/T2423.26-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn) |
GB2423.27-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法 |
GB2423.28-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法 |
GB2423.29-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度 |
GB2423.30-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬 |
GB2423.31-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法 |
GB2423.32-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法 |
GB2423.33-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 |
GB2423.34-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法 |
GB2423.35-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng) |
（正弦）綜合試驗(yàn)方法 | |
GB2423.36-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦） |
綜合試驗(yàn)方法 | |
GB2423.37-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法 |
GB2423.38-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法 |
GB2423.39-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.40-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 |
GB/T2423.41-94 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.42-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法 |
GB/T2423.43-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在衝擊（Ea）、 |
碰撞（Eb）、 振動(dòng)（Ec和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則 | |
GB/T2423.44-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg：撞擊 彈簧錘 |
GB/T2423.45-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序 |
GB/T2423.46-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊 擺錘 |
GB/T2423.47-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg：聲振 |
GB/T2423.48-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)—時(shí)間曆程法 |
GB/T2423.49-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng)—正弦拍頻法 |
GB2424.1-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.2-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.9-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 長(zhǎng)黴試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.10-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 |
GB2424.11-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.12-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.13-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.14-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.15-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.17-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.18-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.19-84 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模 擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.20-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.21-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.22-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.23-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB/T2424.24-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB10593.1-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 振動(dòng) |
GB10593.2-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 鹽霧 |
GB10593.3-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納 |
GB11804-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語(yǔ) |
GB4796-84 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí) |
GB4797.1-84 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度 |
GB4797.2-86 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海拔與氣壓、水深與水壓 |
GB4797.3-86 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物 |
GB4797.4-89 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽(yáng)福射與溫度 |
GB/T4797.5-92 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風(fēng) |
GB/T4797.6-1995 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧 |
GB4798.1-86 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 貯存 |
GB/T4798.2-1996 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 運(yùn)輸 |
GB4798.3-90 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用 |
GB4798.4-90 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 無氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用 |
GB4798.5-87 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 地麵車輛使用 |
GB/T4798.6-1996 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 船用 |
GB4798.7-87 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用 |
GB/T4798.9-1997 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候 |
GB/T4798.10-91 | 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 導(dǎo)言 |
GB/T13952-92 | 移動(dòng)式平臺(tái)及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級(jí) |
GB/T16422.1/1996 | 塑料實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)方法 **部分 通則 |
GB/T2951.1~2951.10-1997 | 電纜絕緣和護(hù)套料通用試驗(yàn)方法 |
GB/T14597-93 | 電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件 |
GB11606.1~11606.17-89 | 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 |
GB12085.1~12085.14-89 | 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 |
GB6999-86 | 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表 |
GB/T6031-1998 | 硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測(cè)定 |
GB/T17782-1999 | 硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗(yàn)方法 |
GB9868-88 | 橡膠獲得高於或低於常溫試驗(yàn)溫度通則 |
GB/T12831-91 | 硫化橡膠人工氣候（氙燈）老化試驗(yàn)方法 |
GB/T12584-90 | 橡膠或塑料塗覆織物低溫衝擊試驗(yàn) |
GB/T14710-93 | 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法 |
GB14048.3-93 | 低壓開關(guān)設(shè)備和控製設(shè)備低壓開關(guān) 隔離器 隔離開關(guān)及熔斷器組合器 |
GB8747-87 | 氣象用玻璃液體溫度表 |
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GJB150.4-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn) |
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GJB150.8-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨試驗(yàn) |
GJB150.9-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn) |
GJB150.10-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 黴菌試驗(yàn) |
GJB150.11-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn) |
GJB150.12-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 砂塵試驗(yàn) |
GJB150.13-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 爆炸性大氣試驗(yàn) |
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