中國(guó)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)列表

日期：2025-12-15 10:29

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標(biāo) 準(zhǔn) 編號(hào)	標(biāo) 準(zhǔn) 名稱
GB10586-89	濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10587-89	鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10588-89	長(zhǎng)黴試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-89	低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10590-89	低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10591-89	高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89	高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-89	高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11159-89	低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.1-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB/T5170.2-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11-1996	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.13-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB5170.14-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
GB5170.15-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB5170.16-85	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī)
GB5170.17-87	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.18-87	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.19-89	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB5170.20-90	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
GB2421-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則
GB/T2422-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB2423.1-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-93	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-93	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.5-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：衝擊
GB/T2423.6-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T2423.7-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第4部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒
	（主要用於設(shè)備樣品）
GB/T2423.8-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第5部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落
GB2423.9-89	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.10-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB/T2423.11-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法以試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
GB/T2423.12-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
GB/T2423.15-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T2423.16-1999	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)黴
GB/T2423.17-93	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB2423.18-2000	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kb：交變鹽霧試驗(yàn)方法（氯化鈉溶液）
GB2423.19-81	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
GB2423.20-81	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
GB2423.21-91	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
GB2423.22-87	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB/T2423.23-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封
GB/T2423.24-1995	電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模似地麵上的太陽(yáng)輻射
GB/T2423.25-92	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-92	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB2423.27-81	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
GB2423.28-82	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法
GB2423.29-1999	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB2423.30-1999	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB2423.31-85	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB2423.32-85	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
GB2423.33-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
GB2423.34-86	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB2423.35-86	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)
	（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB2423.36-86	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）
	綜合試驗(yàn)方法
GB2423.37-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法
GB2423.38-90	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法
GB2423.39-90	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法
GB/T2423.40-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T2423.41-94	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T2423.42-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.43-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在衝擊（Ea）、
	碰撞（Eb）、振動(dòng)（Ec和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T2423.44-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eg：撞擊彈簧錘
GB/T2423.45-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T2423.46-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ef：撞擊擺錘
GB/T2423.47-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg：聲振
GB/T2423.48-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff：振動(dòng)—時(shí)間曆程法
GB/T2423.49-1997	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe：振動(dòng)—正弦拍頻法
GB2424.1-89	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.2-93	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.9-90	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程長(zhǎng)黴試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.10-93	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
GB2424.11-82	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.12-82	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.13-81	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.14-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.15-92	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.17-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.18-82	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程在清洗劑中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.19-84	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.20-85	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.21-85	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.22-86	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.23-90	電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.24-1995	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB10593.1-89	電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法振動(dòng)
GB10593.2-90	電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法鹽霧
GB10593.3-90	電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納
GB11804-89	電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語(yǔ)
GB4796-84	電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級(jí)
GB4797.1-84	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度和濕度
GB4797.2-86	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件海拔與氣壓、水深與水壓
GB4797.3-86	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件生物
GB4797.4-89	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽(yáng)福射與溫度
GB/T4797.5-92	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件降水和風(fēng)
GB/T4797.6-1995	電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧
GB4798.1-86	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件貯存
GB/T4798.2-1996	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件運(yùn)輸
GB4798.3-90	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB4798.4-90	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件無氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB4798.5-87	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件地麵車輛使用
GB/T4798.6-1996	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件船用
GB4798.7-87	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件攜帶和非固定使用
GB/T4798.9-1997	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候
GB/T4798.10-91	電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件導(dǎo)言
GB/T13952-92	移動(dòng)式平臺(tái)及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級(jí)
GB/T16422.1/1996	塑料實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)方法 **部分通則
GB/T2951.1~2951.10-1997	電纜絕緣和護(hù)套料通用試驗(yàn)方法
GB/T14597-93	電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件
GB11606.1~11606.17-89	分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB12085.1~12085.14-89	光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB6999-86	環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表
GB/T6031-1998	硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測(cè)定
GB/T17782-1999	硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗(yàn)方法
GB9868-88	橡膠獲得高於或低於常溫試驗(yàn)溫度通則
GB/T12831-91	硫化橡膠人工氣候（氙燈）老化試驗(yàn)方法
GB/T12584-90	橡膠或塑料塗覆織物低溫衝擊試驗(yàn)
GB/T14710-93	醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法
GB14048.3-93	低壓開關(guān)設(shè)備和控製設(shè)備低壓開關(guān) 隔離器隔離開關(guān)及熔斷器組合器
GB8747-87	氣象用玻璃液體溫度表
GB/T7020-86	中空玻璃測(cè)試方法
GB3100~3102-93	量和單位
GB3836.1-2000	爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備第1部分：通用要求
GB3836.2-2000	爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備第2部分：隔爆型"d'
GB11605-89	濕度測(cè)量方法
GB/T4857.7-92	包裝、運(yùn)輸包裝件正弦頻振動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T4857.9-92	包裝、運(yùn)輸包裝件噴淋試驗(yàn)方法
GB/T4857.3-92	包裝運(yùn)輸包裝件靜載荷堆碼試驗(yàn)方法
GB/T5398-1999	大型運(yùn)輸包裝件試驗(yàn)方法
GB/T4857.5~4857.6-92	包裝、運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法滾動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T4857.2-92	包裝、運(yùn)輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T19000.2-1994	質(zhì)量管理和保證標(biāo)準(zhǔn) **部分：GB／T19001，19002，19003
GB/T19004.2-1994	質(zhì)量管理和質(zhì)量體係表第2部分：服務(wù)指南
GB/T19003-1994	質(zhì)量體係：終檢驗(yàn)和試驗(yàn)的質(zhì)量保證模式
GB/T19004.3	第三部分：流程性材料指南
GB/T19004.4-1994	質(zhì)量管理和質(zhì)量體係要素第四部分：質(zhì)量改進(jìn)指南
GB/T15497-1995	企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體係技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體係的構(gòu)成和要求
GB/T15498-1995	企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體係管理標(biāo)準(zhǔn)工作標(biāo)準(zhǔn)體係的構(gòu)成和要求
GB/T1.1-2000	標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則
GB/T13017-1995	企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)表編製指南
GB/T13264-91	不合格品率的小批計(jì)數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表


JB2678-80	電工產(chǎn)品高原使用環(huán)境條件
JB2853-80	電工產(chǎn)品、儀器儀表基本環(huán)境條件
JB3157-82	電工產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分級(jí)（氣候與化學(xué)環(huán)境因素部分）
JB4160-85	電工產(chǎn)品的熱帶自然環(huán)境條件
JB4375-86	電工產(chǎn)品戶外、戶內(nèi)腐蝕場(chǎng)所使用環(huán)境條件
JB/T5520-91	乾燥箱技術(shù)條件
JB/T5377-91	恒溫水槽技術(shù)條件
JB/T6862-93	溫濕度計(jì)
JB/T5376-91	低溫恒溫槽技術(shù)條件
JB/T6823-93	生物人工氣候箱技術(shù)條件
JB/T5219-91	工業(yè)熱電偶型式基本參數(shù)及尺寸
JB/T5405-91	薄膜鍵盤技術(shù)條件
JB/T5451-91	微動(dòng)開關(guān)通用技術(shù)條件
JB/T5582-91	鎧裝熱電偶
JB/T5583-91	工業(yè)熱阻型式基本參數(shù)及尺寸
JB/T6170-92	壓力傳感器通用技術(shù)條件
JB/T6174-92	儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)範(fàn)
JB/T6239.1~.5-92	工業(yè)自動(dòng)化儀表通用試驗(yàn)方法
JB1012-91	YY係列單相異步電動(dòng)機(jī)技術(shù)條件
JB/T8514.1~8514.3-1997	企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則


GJB150.1-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法總則
GJB150.2-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓（高度）試驗(yàn)
GJB150.3-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)
GJB150.4-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)
GJB150.5-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度衝擊試驗(yàn)
GJB150.6-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度—高度試驗(yàn)
GJB150.7-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)
GJB150.8-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法淋雨試驗(yàn)
GJB150.9-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)
GJB150.10-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法黴菌試驗(yàn)
GJB150.11-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)
GJB150.12-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法砂塵試驗(yàn)
GJB150.13-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法爆炸性大氣試驗(yàn)
GJB150.14-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法浸漬試驗(yàn)
GJB150.15-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法加速度試驗(yàn)
GJB150.16-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)
GJB150.17-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法噪聲試驗(yàn)
GJB150.18-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法衝擊試驗(yàn)
GJB150.19-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度—濕度—高度試驗(yàn)
GJB150.20-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法飛機(jī)炮振試驗(yàn)
GJB128A-97	半導(dǎo)體與立器件試驗(yàn)方法
GJB33A-97	半導(dǎo)體分立器件總規(guī)範(fàn)
GJB548A-96	微電子器件試驗(yàn)方法和程序
GJB1032-90	電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法
GJB360A-96	電子及電氣元件試驗(yàn)方法
GJB2712-96	測(cè)量設(shè)備的質(zhì)量保證要求計(jì)量確認(rèn)體係
GJB150.21~150.22-87	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
GJB150.23-91	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法傾斜和搖擺試驗(yàn)
GJB150.1~150.22-86	**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
YY0027-90	電熱恒溫培養(yǎng)箱
JJG718-91	溫度巡回檢測(cè)儀
JJG350-94	標(biāo)準(zhǔn)套管鉑電阻溫度計(jì)
JJG161-94	一等標(biāo)準(zhǔn)水銀溫度計(jì)
JJF1059-1999	測(cè)量不確定度評(píng)定與表示
JJG1030-91	恒溫槽技術(shù)性能測(cè)試規(guī)範(fàn)

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